对比分析电离层TEC对测量精度的影响

摘要

TEC 又称电离层电子浓度总含量，是研究电离层时需要考虑的一个重要参量。在理论上，测量 TEC 含量是随时间而变化的，它可以很好地反映电离层本身的特性，通过分析电离层 TEC 的短期预报，从而精确测量信号传播改正。论文分别通过频谱分析法和时间序列的自回归模型（AR 模型）法来分析电离层 TEC 的短期预报。首先通过频谱分析法对原始数据进行拟合，计算得到的拟合残差从而建立自回归模型，进而分析电离层 TEC 的短期预报效果；其次通过时间序列的自回归模型参数估计及 F 检验法分析得到电离层 TEC 的短期预报效果。